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顯卡晶振,DIODES百利通亞陶晶振,SQ振蕩器,HCSL輸出差分晶振,SQA000001

頻率：100MHz

尺寸：5.00mm x 3.20mm

顯卡晶振,DIODES百利通亞陶晶振,SQ振蕩器,HCSL輸出差分晶振,SQA000001 SQA000001作為DIODES百利通亞陶的顯卡晶振，在顯卡的運(yùn)行中扮演著至關(guān)重要的角色。其獨(dú)特的HCSL輸出特性，能夠提供差分信號(hào)，這種信號(hào)傳輸方式具有出色的抗干擾能力，可有效減少電磁干擾對(duì)時(shí)鐘信號(hào)的影響，保證信號(hào)在顯卡內(nèi)部高速傳輸過(guò)程中的完整性和準(zhǔn)確性。

訂購(gòu)熱線(xiàn)：0755-27876201

顯卡晶振,DIODES百利通亞陶晶振,SQ振蕩器,HCSL輸出差分晶振,SQA000001

SQA000001作為DIODES百利通亞陶的顯卡晶振，在顯卡的運(yùn)行中扮演著至關(guān)重要的角色。HCSL輸出振蕩器其獨(dú)特的HCSL輸出特性，能夠提供差分信號(hào)，這種信號(hào)傳輸方式具有出色的抗干擾能力，可有效減少電磁干擾對(duì)時(shí)鐘信號(hào)的影響，保證信號(hào)在顯卡內(nèi)部高速傳輸過(guò)程中的完整性和準(zhǔn)確性。
該臺(tái)產(chǎn)晶振采用先進(jìn)的制造工藝和高品質(zhì)材料，確保在顯卡工作時(shí)可能面臨的較寬溫度范圍內(nèi)（如 - 20℃至 + 70℃），能將頻率偏差嚴(yán)格控制在極小范圍，展現(xiàn)出卓越的頻率穩(wěn)定性。這對(duì)于顯卡在處理高分辨率圖像、進(jìn)行復(fù)雜3D渲染等任務(wù)時(shí)至關(guān)重要，因?yàn)槿魏晤l率的不穩(wěn)定都可能導(dǎo)致圖像出現(xiàn)卡頓、花屏等問(wèn)題。
作為SQ石英晶體振蕩器系列的一員，SQA000001的設(shè)計(jì)緊湊，便于在顯卡的電路板上進(jìn)行安裝，適應(yīng)顯卡內(nèi)部高密度的電路布局。其封裝不僅節(jié)省空間，還具備良好的散熱性能和電氣性能，有助于提升晶振在顯卡復(fù)雜工作環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。
在顯卡中，GPU需要精確的時(shí)鐘信號(hào)來(lái)協(xié)調(diào)數(shù)據(jù)的處理和傳輸。SQA000001為GPU提供穩(wěn)定的時(shí)鐘基準(zhǔn)，使得GPU能夠以最佳狀態(tài)運(yùn)行，確保圖形數(shù)據(jù)的快速處理和流暢輸出。無(wú)論是在游戲場(chǎng)景中呈現(xiàn)逼真的畫(huà)面，還是在專(zhuān)業(yè)圖形設(shè)計(jì)工作中處理高精度圖像，該晶振都能保證顯卡的穩(wěn)定性能，為用戶(hù)帶來(lái)高質(zhì)量的視覺(jué)體驗(yàn)。
DIODES百利通亞陶晶振對(duì)SQA000001的品質(zhì)把控貫穿整個(gè)生產(chǎn)流程。從原材料的嚴(yán)格篩選，到生產(chǎn)過(guò)程中的精細(xì)制造和檢測(cè)，每一個(gè)環(huán)節(jié)都遵循嚴(yán)格的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。經(jīng)過(guò)高低溫循環(huán)、濕度、振動(dòng)及沖擊等一系列嚴(yán)苛測(cè)試，確保晶振在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定工作，為顯卡的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行提供可靠保障。憑借其卓越的性能、可靠的品質(zhì)以及對(duì)顯卡應(yīng)用的高度適配性，SQA000001成為顯卡制造商在選擇晶振時(shí)的理想選擇之一。

顯卡晶振,DIODES百利通亞陶晶振,SQ振蕩器,HCSL輸出差分晶振,SQA000001

Parameter

Min.

Typ.

Max.

Units

Notes

Output Frequency

120

MHz

Supply Voltage

2.97

3.30

3.63

Supply Current, Output Enabled

Supply Current, Output Disabled

Frequency Stability

±50

ppm

See Note 1 below

Operating Temperature Range

-40

+85

°C

Industrial

Output Logic 0, VOL

-0.15

Output Logic 1, VOH

0.66

0.7

0.9

Output Load

Rs = 33Ω, Rp = 50Ω, CL = 2pF

output requires termination

Duty Cycle

Measured 50% of waveform

Rise and Fall Time

0.7

Maximum measured from

VOL = 0.175V to VOH = 0.525V

Jitter, Phase RMS (1-σ)

1.8

2.5

As defined by PCI-SIG for PCIe® 2.0

reference clock

Jitter, pk–pk

100,000 random periods

顯卡晶振,DIODES百利通亞陶晶振,SQ振蕩器,HCSL輸出差分晶振,SQA000001

所有石英晶振產(chǎn)品的共同點(diǎn)
1、抗沖擊
晶體產(chǎn)品可能會(huì)在某些條件下受到損壞。例如從桌上跌落或在貼裝過(guò)程中受到?jīng)_擊。如果產(chǎn)品已受過(guò)沖擊請(qǐng)勿使用。
2、輻射
暴露于輻射環(huán)境會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品性能受到損害，因此應(yīng)避免照射。
3、化學(xué)制劑 / pH值環(huán)境
請(qǐng)勿在PH值范圍可能導(dǎo)致腐蝕或溶解產(chǎn)品或包裝材料的環(huán)境下使用或儲(chǔ)藏這些產(chǎn)品。
4、粘合劑
請(qǐng)勿使用可能導(dǎo)致產(chǎn)品所用的封裝材料，終端，組件，玻璃材料以及氣相沉積材料等受到腐蝕的膠粘劑。（比如，氯基膠粘劑可能腐蝕一個(gè)晶體單元的金屬“蓋”，從而破壞密封質(zhì)量，降低性能。）
5、鹵化合物
請(qǐng)勿在鹵素氣體環(huán)境下使用產(chǎn)品。即使少量的鹵素氣體，比如在空氣中的氯氣內(nèi)或封裝所用金屬部件內(nèi)，都可能產(chǎn)生腐蝕。同時(shí)，請(qǐng)勿使用任何會(huì)釋放出鹵素氣體的樹(shù)脂。
6、靜電
過(guò)高的靜電可能會(huì)損壞產(chǎn)品，請(qǐng)注意抗靜電條件。請(qǐng)為容器和封裝材料選擇導(dǎo)電材料。在處理的時(shí)候，請(qǐng)使用電焊槍和無(wú)高電壓泄漏的測(cè)量電路，并進(jìn)行接地操作

顯卡晶振 DIODES百利通亞陶晶振 SQ振蕩器 HCSL輸出差分晶振 SQA000001

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